9(3)02
Nauka innov. 2013, 9(3):13-18
https://doi.org/10.15407/scin9.03.013
І.П. Жарков1, О.М. Іващенко1, Е.М. Руденко2, І.В. Короташ2, А.О. Краковный2, В.В. Сафронов1, В.О. Ходунов1, О.Е. Руденко3
1 Інститут фізики НАН України, Київ
2 Інститут металофізики НАН України, Київ
3 Міжнародний центр електронно-променевих технологій Інституту електрозварювання НАН України, Київ
Низькотемпературний скануючий пристрій для мікрохвильової неруйнівної дефектоскопії
Розділ: Наукові основи інноваційної діяльності
Мова статті: російська
Анотація: Розроблено новий пристрій для мікрохвильової неруйнівної дефектоскопії з мінімальними тепловими шумами й збільшеним відношенням сигнал/шум, в якому використано азотний заливний кріостат, що переміщається, із вмонтованими в нього активними мікрохвильовими елементами.
Ключові слова: мікрохвильова неруйнівна дефектоскопія, азотний кріостат, скануючий пристрій.
Повний текст (PDF)
Література:
1. Система неразрушающего контроля. Виды (методы) и технология неразрушающего контроля. Справочное пособие. Сер. 28, выпуск 4. - М.: ГУП «Научно-технический центр по безопасности и промышленности Гостехнадзора России», 2003. - 97 с.
2. Ермолов И.Н., Останин Ю.Я. Методы и средства неразрушающего контроля качества. - М.: Высшая школа, 1988. - 368 с.
3. Жарков И.П., Жирко Ю.И., Маслов В.А. и др. Малогабаритное устройство охлаждения фотоэлектронных умножителей . Научное приборостроение. - 2011. - Т. 21. - No. 1. - С. 120-124.
4. Жарков И.П., Короташ И.В., Руденко Э.М. и др. Способ радиоволнового неразрушающего контроля и устройство для его применения . Заявка РФ на изобретение 2011107975/07 от 01.03.20011, дата публикации 10.09.2012.