1Крамченков, АБ, 1Сторіжко, ВЮ, 1Дрозденко, ОО, 1Денисенко, ВЛ, 2Карстаньєн, ХД
1Інститут прикладної фізики НАН України, Суми
2Інститут досліджень металів товариства Макса Планка, Німеччина
Nauka innov. 2010, 6(5):32-37
https://doi.org/10.15407/scin6.05.032
Рубрика: Наукові основи інноваційної діяльності
Мова: Російська
Анотація: 

Описано новий канал ядер віддачі у складі мікроаналітичного прискорюючого комплексу, розробленого в Інституті прикладної фізики НАН України. Канал призначений для кількісного неруйнівного визначення концентрації водню в матеріалах за допомогою методу ядер віддачі. Висока роздільна здатність за енергією, а отже за глибиною, досягається використанням прецизійного електростатичного спектрометра у сполученні з позиційно-чутливим детектором. Енергетична роздільна здат ність ΔE/E приладу складає 3×10-4. Нижня межа визначення концентрації водню складає близько 10 ppm.

Ключові слова: висока роздільна здатність, електростатичний спектрометр, мікроаналітичний прискорюючий комплекс, метод ядер віддачі, профіль концентрації водню
Посилання: 
1. Сторижко В.Е. Методы ядерного микроанализа, Материалы II Всесоюзной конференции «Микроанализ на ионных пучках», 11-13 октября 1988 г., г. Харьков. — Сумы: «Редакционно-издательский отдел облуправления по печати», 1991. — С. 3-53.
2. Bubert H., Janet H. Surface and Thin Film Analysis: Principles, Instrumentation, Applications. Willey-VCH Verlag, 2002. — P. 164.
3. Сторижко В.Е., Дрозденко А.А., Мирошниченко В.И., Пономарев А.Г. Микроаналитический ускорительный комплекс ИПФ НАН Украины // Труды XVІ международной конференции по электростатическим ускорителям и пучковым технологиям, 6-8 июня 2006 г. — Обнинск: ГНЦ РФ ФЭИ, 2007 г. — С. 88-97.
4. Storizhko V.E., Ponomarev A.G., Rebrov V.A. et all. The Sumy scanning nuclear microprobe: Design features and first tests // Nucl. Instr. and Meth. B 260 (2007). — P. 101-104.
5. Дрозденко А.А., Денисенко В.Л., Дудник А.Б. и др. Аппаратура для исследования наноструктур методом резерфордовского обратного рассеяния // Тезисы докладов международного совещания «Микро и нанотехнологии с использованием пучков ионов, ускоренных до малых и средних энергий», Обнинск, 2007 г. — С. 67.
6. Enders T., Rilli M., Carstanjen H.D. A high-resolution electrostatic spectrometer for the investigation of near-surface layers in solids by high-resolution Ruther ford backscattering with MeV ions. — Nucl. Instr. and Meth. — B 64 (1992). — P. 817.
7. Carstanjen H.D. Ion beam analysis with monolayer depth resolution. — Nucl. Instr. and Meth. B. 136-138 (1998), 1183-1190.