Сафронов, РІ
Nauka innov. 2011, 7(3):36-38
https://doi.org/10.15407/scin7.03.036
Рубрика: Науково-технічні інноваційні проекти Національної академії наук України
Мова: Українська
Анотація: 
Вивчена можливість вимірювання стехіометрії сапфіру за розсіянням рентгенівських променів. Вимірювання проводилися на рентгенофлуоресцентному спектрометрі в рентгенооптичній схемі з вторинним джерелом випромінювання. Показано існування однозначного зв’язку між величиною Ik/Ir та стехіометрією сапфіру. Запропонована формула для визначення кількості катіонних вакансій в сапфірі.
Ключові слова: неруйнівні методи контролю, розсіяння рентгенівських промінів, стехіометрія складу кристалів
Посилання: 
1. Добровинская Е.Р., Литвинов Л.А., Пищик В.В. Энциклопедия сапфира. — Харьков: Институт монокристаллов, 2004 г.
2. Анисович К.В. Перспективы повышения чувствительности флуоресцентного рентгеновского анализа // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. – 1980 . – Вып. № 24. – С. 61-70.
3. Mikhailov I.F., Sobol O.V., Varganov V.V., Fomina L.P. Determination of mass fraction of light elements in crystalline materials by the Compton-to-Rayleigh scattering in tensity ratio // Functional Materials. – 2002. – V. 9, № 4. – P. 651-657.
4. Vishnevsky S.D., Krivonosov E.V., Litvinov L.A. Formation and diffusion of anionic vacancies in leucosapphire // Functional Materials. – 2003. – V. 10, № 2. – P. 238-242.