Інформаційно-вимірювальна система для тунельної спектроскопії

ЗаголовокІнформаційно-вимірювальна система для тунельної спектроскопії
Тип публікаціїJournal Article
Year of Publication2010
АвториЖарков, ІП, Іващенко, ОМ, Сафронов, ВВ
Short TitleNauka innov.
DOI10.15407/scin6.03.047
Об'єм6
Проблема3
РубрикаНауково-технічні інноваційні проекти Національної академії наук України
Pagination47-52
МоваРосійська
Анотація
Розроблено сучасну недорогу інформаційно-вимірювальну систему (ІВС) для забезпечення автоматизації експериментів тунельної спектроскопії. Реалізація лише струмової розгортки дала можливість суттєво спростити апаратну частину ІВС, забезпечити повну автоматизацію процедури вимірювання ВАХ. Описані апаратні особливості розробленої ІВС, а також можливості створеного програмного забезпечення.
Ключові словадинамічна провідність, струмова розгортка, тунельна спектроскопія
Посилання
1. Adler J.G., Jackson J.E. System for Observing Small Nonlinearities in Tunnel Junctions // The Review of Scientific Instruments. — 1966. — V. 37, N 8. – P. 1050-1054.
2. Adler J.G., Chen T.T., Straus J. High Resolution Electron Tunneling Spectroscopy // The Review of Scientific Instruments. — 1971. — V. 42, N 3. – P. 362-368.
3. Дижур Е.М., Федоров А.В. Туннельная спектроскопия на постоянном токе и цифровой метод анализа экспериментальных данных // Приборы и техника эксперимента. — 2005. — № 4. — С. 38-42.
4. Keithley. Приборы для измерения и тестирования. Каталог продукции 2008. — 60 с. URL: http://www.keithley.nnz-ipc.ru
5. HP 4155B/4156B Semiconductor Parameter Analyzer. URL: http://cp.literature.agilent.com/litweb/pdf/5968-6681E.pdf
6. ADA-1406 Модуль ввода-вывода аналоговых и дискретных сигналов. Руководство пользователя. ООО «ХОЛИТ Дэйта Системс». Киев. — 17 с.
7. URL: http://www.holit.ua
8. Де Бор К. Практическое руководство по сплайнам: Пер.с англ. — М.: Радио и связь, 1985. — 304 с.
9. He X., Shen L., Shen Z. A data-adaptive knot selection scheme for fitting splines // Signal Processing Letters, IEEE. — 2001. — V. 8, N 5. — P. 137-139.